Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen, Teil 1

Internal ID	10
Author(s)	Michel, B.; Großer, V.; Dudek, R.; Kühnert, R.; Schubert, A.
Where published?	Verbindungstechnik in der Elektronik 5
Year	1993
Page(s)	76 - 80