Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und Nanomesstechniken in Kopplung zu Simulation

Internal ID	57
Author(s)	Michel,B., Dudek,R., Keller, J., Luczak, F.
Where published?	in GMM-Fachberichte Elektronische Baugruppen,Nr.44, ed. W. Scheel, VDE Verlag Offenbach
Year	2004
Page(s)	99-112