Quantitative Deformations- und Rißspitzenanalyse mittels Mikro-Moiré-Technik im REM

Internal ID 20
Author(s) Michel, B.; Kühnert, R.
Where published? Vortragsveranstaltung des Deutschen Verbandes für Materialforschung und -prüfung, AK Rastermikroskopie in der Materialprüfung, Dresden, 13.-15.4.1994, Veröffentl. des DVM
Year 1994
Page(s) 115 - 120