Zuverlässigkeitsbewertung zurBauteloptimierung im Mikro-Nano- Übergangsbereich

Internal ID	115
Author(s)	Michel, B.;Pufall, R; Kanert, W.;Dudek, R.;
Where published?	Mesago, Messepublikation, Tutorialhandbuch SMT Nürnberg
Year	2011
Page(s)	1-60