Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen, Teil 2

Internal ID 14
Author(s) Michel, B.; Großer, V.; Dudek, R.; Kühnert, R.; Schubert, A.
Where published? Verbindungstechnik in der Elektronik 5
Year 1993
Page(s) 121 - 124