Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und Nanomesstechniken in Kopplung zu Simulation

Internal ID 57
Author(s) Michel,B., Dudek,R., Keller, J., Luczak, F.
Where published? in GMM-Fachberichte Elektronische Baugruppen,Nr.44, ed. W. Scheel, VDE Verlag Offenbach
Year 2004
Page(s) 99-112