Microreliability,Nanoreliability- Zuverlässigkeitsbewertung von Polyme... |
Michel,B. |
Tagung Deformations-... |
Merseburg |
06/2005 |
Numerical Characterization of Electronic Packaging Solutions based on ... |
Sommer,J.-P.,... |
6th. Internat. Conf.... |
Shenzen,... |
08/2005 |
MicroDAC and NanoDAC- New Experimental Testing Techniques for High-Tem... |
Michel,B. |
High Temperature... |
Paris,... |
09/2005 |
Die Möglichkeiten der FIB-Technik zur Schadensanalyse an bleifreien Lo... |
Faust,W.,... |
39.... |
Erlangen |
09/2005 |
Accelerated Failure Test for High- T Applications of Power Mosfet by P... |
Schacht,R.,... |
International Workshop... |
Belgirate,... |
09/2005 |
Zuverlässikeitskonzepte von Makro bis Nano- Neue Anforderungen und Mög... |
Michel, B. |
1. Dresdner... |
Dresden |
09/2005 |
Microreliability, Nanoreliability- Reliability Approach for the Micro-... |
Michel, B. |
Microsystem... |
Munich,... |
10/2005 |
Ermittlung von Eigenspannungen im Mikro- und Nanobereich |
Michel, B. |
Invited Plenary... |
Lichtenwalde... |
10/2005 |
Zuverlässigkeitskonzepte von 'Mikro bis Nano'- Neue Anforderungen und ... |
Michel,B. |
Invited Lecture,... |
Freiburg |
10/2005 |
Reliability Testing of Polytronics Components in the Micro-Nano Region |
Michel, B.,... |
Invited Plenara... |
Wroclaw,... |
10/2005 |
Zuverlässigkeit von komponenten der Mikrosystemtechnik durch die Einbe... |
Michel,B.,... |
Tagung Mikromechanik... |
Chemnitz |
10/2005 |
Nanoreliability for Mechanically Loaded Devices |
Vogel,D.,... |
International Congress... |
San... |
11/2005 |
Packaging Reliability on the Way from Micro to Nano |
Michel, B.,... |
Invited Plenary... |
San... |
11/2005 |
Experimental Mechanics on the Way from Micro to Nano |
Michel, B. |
Invited Open Lecture |
Chalmers... |
11/2005 |
Nanoreliability- Lifetime Estimation for nanotechnology Applications B... |
Michel, B. |
4th. Int. Symposium... |
Dresden |
11/2005 |
Prüfung und Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik im Mi... |
Michel, J.,... |
Invited Lecture,23.... |
Berlin |
12/2005 |
Clearingstelle für Automobilelektronik Berlin- Wissenschaftliche Kompe... |
Michel,B. |
13.... |
Berlin |
01/2006 |
Interface-Risse in Komponenten der Mikro- und Nanoelektronik |
Michel,B.;... |
36. Tagung des DVM... |
Aachen |
02/2006 |
Local Deformation Analysis to Improve Reliability Assessment of Materi... |
Michel,B.,... |
11th. Annual SPIE... |
San Diego,... |
02/2006 |
Anforderungen aus der Nanotechnologie an die Zuverlässigkeitskonzepte ... |
Michel,B.,... |
1.DVM Konferenz... |
Darmstadt |
03/2006 |
Lifetime Prediction for Advanced Packaging based on Physics of Failure... |
Wunderle,B.,... |
Int. Symp. on Advanced... |
Atlanta, USA |
03/2006 |
Secupart- Deformationsanalyse mit digitaler Bildkorrelation für Nano b... |
Dost,M.,... |
NEMO-... |
Jena |
03/2006 |
Digital Image Correlation Analysis on the Way from Micro to Nano |
Michel, B. |
Fair and Congress,... |
Berlin |
03/2006 |
Die Clearingstelle Automobilelektronik |
Michel,B. |
AK Steuern und Regeln... |
Technologies... |
03/2006 |
From Microelectronics to Nanoelectronics- Reliability and Packaging Is... |
Michel,B.;Reich... |
SEMI, Nanoelectronics... |
Munich |
04/2006 |
Zuverlässigkeit von Automobilsensorik durch moderne Nanomesstechnik |
Michel,B. |
Nano.tage |
München |
05/2006 |
Microsecurity- Sicherheit durch Miniaturisierung mit Sensorik und Mikr... |
Michel,B.,... |
BMBF Workshop zur... |
Bonn |
05/2006 |
FIBDAC- ein leistungsfähiges Messverfahren zur Ermittlung von lokalen ... |
Michel,B. |
24. ITG Tagung... |
Grainau |
05/2006 |
Physics of Failure-basierte Lebensdauervorhersage im Mikro-Nano-Überga... |
Wunderle,B.,... |
24. Tagung... |
Grainau,... |
05/2006 |
A new Method for Local Stress Field Analysis near Cracks in Micro- and... |
Michel,B.,... |
16. European... |
Alexandroupo... |
06/2006 |
Nanoreliability- Fracture Mechanics on the Way from Micro to Nano |
Michel,B.,... |
Invited Plenary... |
Alexandroupo... |
06/2006 |
Cracks in Micro- and nanoelectronics |
Michel, B.,... |
Symposium, 16.... |
Alexandroupo... |
06/2006 |
Werkstoffe der Mikroelektronik- Qualitätssicherung und Zuverlässigkeit... |
Michel,B. |
Workshop Materialien... |
Dresden |
06/2006 |
Capabilities of Incorporating Bulk Fracture, Bimaterial Interface and ... |
Auersperg, J.;... |
7th. Internat. Conf.... |
ICEPT 2006,... |
08/2006 |
Zuverlässigkeitsfragen von der Mikrosystemtechnik bis zur Nanotechnolo... |
Michel,B. |
HTW Zwickau,... |
Zwickau |
09/2006 |
Zuverlässigkeitsforschung für Mikro- und Nanotechnologien-gegenwärtige... |
Michel,B. |
Kolloquium IMTEK,... |
Freiburg |
09/2006 |
Workshop Nanoreliability |
Michel,... |
ESREF 2006 (European... |
Wuppertal |
10/2006 |
Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer von Sensorsystemen im Mikr... |
Michel,B. |
Leibniz Conference... |
Lichtenwalde |
10/2006 |
Zuverlässigkeit von Sensorsystemen und deren Komponenten |
Michel, B. |
3rd. Leibniz... |
Lichtenwalde |
10/2006 |
Neue Konzepte und Methoden der Zuverlässigkeit von Automobilelektronik... |
Michel,B. |
GMM-Automotive Forum,... |
München |
10/2006 |
Zuverlässigkeit von Automobilsensorik durch Einsatz moderner Nanomesst... |
Michel,B. |
Workshop Nanomobil-... |
Graz,... |
11/2006 |
Neue Konzepte und Methoden zur Zuverlässigkeit von Automobilelektronik... |
Michel, B. |
Electronica 2006,... |
München |
11/2006 |
Thermo-Mechanical Reliability of 3D-Integrated Microstructures in Stac... |
Wunderle,B.;Kau... |
MRS Annual Conference |
Boston, USA |
11/2006 |
Security Assistance Systems- Security Support by Integration of Sensor... |
Michel,B. |
Conference on Safety &... |
Potsdam |
11/2006 |
Security Assistance Systems- Security Support by Integration of Sensor... |
Michel,B.;Winkl... |
Safety and Security... |
Potsdam |
11/2006 |
Zuverlässigkeitsprobleme im Hightech-Bereich- Lösungsansätze und Konze... |
Michel; B. |
Leibniz Societät,... |
Berlin |
12/2006 |
Numerical Analysis for Thermo-Mechanical Reliability of Polymeric Appl... |
Dudek,R.;Walter... |
Polytronics 2007 Conf. |
Tokyo, Japan |
01/2007 |
Fracture Mechanics- A Key to Micro- and Nanotechnology Reliability Ana... |
Michel, B. |
Karl Wieghardt &... |
Vienna,... |
03/2007 |
Reliability Research in the Micro-Nano-Transition Range |
Michel, B. |
Microsystem Technology... |
Berlin |
03/2007 |
Reliability Analysis for Smart Systems on the Way from Micro to Nano |
Michel, B. |
Conference Smart... |
Paris,... |
03/2007 |