| Stress Measurement in Thin Multilayer Systems
by Stress Relief |
Vogel,D.;... |
Internat. Conf. Micro... |
Leipzig |
02/2013 |
| Sicherheit und Zuverlässigkeit von Systemen im Bereich der
Mikro und ... |
Michel, B. |
Symposium... |
Berlin, |
11/2012 |
| Some Comments on the Concepts of Nonlinear and Dynamic FractureMechani... |
Michel, B. |
Workshop Joint Lab... |
Berlin |
08/2012 |
| Stress Chip Measurements of Internal Package Stresses for Process Char... |
Schindler-Saefk... |
EuroSimE 2012,... |
Lissabon,... |
04/2012 |
| Security Assistance Systems- Security Support by Integration of Sensor... |
Michel,B. |
Conference on Safety &... |
Potsdam |
11/2006 |
| Security Assistance Systems- Security Support by Integration of Sensor... |
Michel,B.;Winkl... |
Safety and Security... |
Potsdam |
11/2006 |
| Secupart- Deformationsanalyse mit digitaler Bildkorrelation für Nano b... |
Dost,M.,... |
NEMO-... |
Jena |
03/2006 |
| Simulation and Reliability on the Way from Micro to Nano |
Michel,B.,... |
21st. CAD-FEM Users... |
Potsdam,... |
11/2003 |
| Schädigungskonzepte, Schädigungsvermeidung und Lebensdaueroptimierung ... |
Michel, B.;... |
DVS/GMM-Tagung... |
Fellbach,... |
03/2002 |
| Sicherheit und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten in komplexen... |
Michel, B. |
Institutskolloquium... |
Darmstadt,... |
03/1999 |
| Sicherheit und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten in komplexen... |
Michel, B. |
Institutskolloquium... |
Darmstadt,... |
03/1999 |
| Stochastische Finite Elemente Methode |
Michel, B. |
Kolloquium der... |
Bonn,... |
10/1993 |
| Simulation of Crack Mechanisms in Materials |
Michel,B. |
2.Int. Conference... |
Berlin |
11/1991 |
