Nanoreliability- Zuverlässigkeitskonzepte für den Mikro-Nano-Übergangsbereich

Internal ID	145
Author(s)	Michel,B.; Winkler,T.;Wunderle,B.; Auersperg,J.
Event	3rd Leibniz Conference Nanoscience 2007
Location	Lichtenwalde
Date	18.11.2007
End date	20.11.2007