Prüfung und Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik im Mikro- und Nanobereich

Internal ID 111
Author(s) Michel, J., Keller., J.
Event Invited Lecture,23. Tagung Werkstoffprüfung, Deutscher Verband für Werkstofforschung u. -prüfung
Location Berlin
Date 01.12.2005
End date 02.12.2005