Zuverlässigkeitskonzepte von 'Mikro bis Nano'- Neue Anforderungen und Möglichkeiten der Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik

Internal ID 113
Author(s) Michel,B.
Event Invited Lecture, VDE-Kongress Mikrosystemtechnik 2005
Location Freiburg
Date 10.10.2005
End date 12.10.2005