Nanoreliability- Zuverlässigkeitskonzepte für den Mikro-Nano-Übergangsbereich

Internal ID 145
Author(s) Michel,B.; Winkler,T.;Wunderle,B.; Auersperg,J.
Event 3rd Leibniz Conference Nanoscience 2007
Location Lichtenwalde
Date 18.11.2007
End date 20.11.2007