Untersuchungen zur Zuverlässigkeit von Chipkarten

Internal ID 35
Author(s) Michel, B.; Vogel, D.; Schubert, A.
Event Tagung Fachausschuß 'Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen der ITG
Location Bayersoien
Date 14.05.1996
End date 15.05.1996