Untersuchungen zur Zuverlässigkeit von Chipkarten

Internal ID	35
Author(s)	Michel, B.; Vogel, D.; Schubert, A.
Event	Tagung Fachausschuß 'Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen der ITG
Location	Bayersoien
Date	14.05.1996
End date	15.05.1996