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Reliability Issues for Smart Systems Integration on the Way from Micro to ... Michel,B. VDE Verlag Berlin,... 2007 303-306
Zuverlässigkeitsprobleme im Hightech -Bereich- Lösungsansätze und Konzepte Michel,B. Sitzungsberichte der... 2007 229-237
Zuverlässige Bauteile mit neuen Werkstoffen Michel,B. in:Wirtschaftsstandort... 2006 176
Zuverlässigkeit von Automobilelektronik und Sensorik durch Einsatz moderner... Michel,B. Konferenzmaterialien... 2006 2
Microreliability, Nanoreliability- Reliability Approach for the Micro-Nano ... Michel,B. in: MicroSystem Technologies... 2005 223-226
Reliability Research on the Way from Micro to Nano Michel,B. in: Proceedings 1st Int.... 2005 43-45
Reliability of Micro- and Nanosystems Michel,B. Proc. 2nd. VDE World... 2003 365-368
Zuverlässigkeit von Komponenten der Mikro- und Nanomechatronik Michel,B. Proc. DVM Arbeitskreis... 2003 300
Micromaterials and Nanomaterials Michel,B. (ed.) Publication Series, vol. No.... 2004 -
A Tribute to Albert Einstein Michel,B.(ed.) Micromaterials and... 2006 64 p.
Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und... Michel,B.,... in GMM-Fachberichte ... 2004 99-112
Nanodeformation Analysis Near Small Cracks by Means of nanoDAC Technique Michel,B.,... in: G. Wilkening and L.... 2005 481-489
Nanoreliability- Lifetime Estimation for Nanotechnology Applications Based ... Michel,B.,... in.: Nanofair 2005- Neue... 2005 93-96
Microsecurity- Sicherheit durch Miniaturisierung mit sensorik und Mikrosyst... Michel,B.,... Proc. 2. BMBF Workshop... 2006 48-49
Micro- and Nanoreliability Research in the MicroMaterials Center Chemnitz o... Michel,B.;... MST News 2/09 2009 40- 41
Micro-Deformation Analysis and Reliability Estimation of Micro-Components b... Michel,B.;... in:E.Suhir,Y.C. Lee, C.P.... 2007 233-250
Über das Wechselverhältnis von Kontinuumsmechanik und Strukturphysik fester... Michel,B.;... Reihe Fracture Mechanics,... 1984 1-180
Micromaterials & Nanomaterials Proceedings Internat. Conference MicroCar ... Michel,B.;... Series Micromaterials &... 2013 1-200
Nanoreliability- Reliability Concepts for Micro-Nano-interface Regins Michel,B.;... MicroMaterials&... 2007 60-61
EUCEMAN- The European Center for Microreliability and Nanoreliability Michel,B.;... Micromaterials &... 2007 92-93
Micro- and Nanosecurity: Security by Miniaturization in MST Michel,B.;... Proc. VDE ,... 2007 63-65
Neue Möglichkeiten und Trends moderner Prüftechniken unter besonderer Beach... Michel,B.;Rzepk... PLUS-Produktion von... 2014 562-572
Nanozuverlässigkeit in Verbindung zur Nanoanalytik Michel,B.;Rzepk... Fachbuch Nanotechnologie ,... 2012 4
Möglichkeiten der Bruchmechanik für die Schadensvermeidung in den Bereichen... Michel,B.;Winkl... Scientific Reports , Univ. of... 2012 3-5
German Association of Nanotechnology: Objectives and Benefits Nonninger, R.;... Smart Systems Integration for... 2014 353-357
Mechanism of Moisture Diffusion, Hygroscopic Swelling and Adhesion Degradat... Shirangi ,... Moisture Sensitivity of... 2010 29-69
Advanced Virtual Testing of Structural Integrity in Microelectronics Shirangi,M.H.;M... Proceedings MicroCar 2011,... 2011 im Druck
Image Correlation Techniques for Microsaytem Inspection Vogel, D.;... in: Optical Inspection of... 2006 55-102
Patent : Verfahren zur Lokalen Eigenspannungsbewertung im Nanobereich mitte... Vogel,D.,... N/A 0000 N/A
Evaluation microdefected structures by AFM-based deformation measurement Vogel,D.,... Proc. SPIE, vol. 5045, ed.... 2003 1-12
Microcrack Evaluation for Electronic Components by AFM nanoDAC Deformation ... Vogel,D.,... Proc. 1st. IEEE Conference on... 2001 309-312
FIBDAC StressRelief - a New Method to Access Stress on Patterned Si Wafer Vogel,D.;Gollha... Proceedings MicroCar 2011,... 2011 in print
TeSiMat- Inno Profile Junior Research Group- a Short Report Winkler, T.;... in: Micromaterials and... 2009 134-135
Mechanische und thermische Simulation in der Aufbau- und Verbindungstechnik Wittler, O.;... Systemintegration in der... 2011 57-64
Progress in Reliability Research in the Micro and Nano Region Wunderle, B.;... Microelectronics Reliability... 2006 1685
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