Papers of Micro- and Nanoreliability Symposium,

Interne ID 119
Autor(en) Keller,J.; Michel, B.
Wo veröffentlicht? Proc. NSTI Nanotechnology Conference 2011,Boston, USA,vol. 2,Electronics, Devices, Fabrication, MEMS, Chapter 3, Micro- and Nanoreliability, CRC Press, Taylors and Francis,
Jahr 2011
Seite(n) 1-80