Auf Biegen und Brechen- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen"

Interne ID	56
Autor(en)	Dual, J., Mazza,E., Michel, B.
Wo veröffentlicht?	Bulletin der ETH Zürich, No. 292,Febr. 2004
Jahr	2004
Seite(n)	57-60