Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen, Teil 1
Interne ID
10
Autor(en)
Michel, B.; Großer, V.; Dudek, R.; Kühnert, R.; Schubert, A.
Wo veröffentlicht?
Verbindungstechnik in der Elektronik 5
Jahr
1993
Seite(n)
76 - 80