Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen, Teil 1

Interne ID	10
Autor(en)	Michel, B.; Großer, V.; Dudek, R.; Kühnert, R.; Schubert, A.
Wo veröffentlicht?	Verbindungstechnik in der Elektronik 5
Jahr	1993
Seite(n)	76 - 80