Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und Nanomesstechniken in Kopplung zu Simulation

Interne ID	57
Autor(en)	Michel,B., Dudek,R., Keller, J., Luczak, F.
Wo veröffentlicht?	in GMM-Fachberichte Elektronische Baugruppen,Nr.44, ed. W. Scheel, VDE Verlag Offenbach
Jahr	2004
Seite(n)	99-112