Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und Nanomesstechniken in Kopplung zu Simulation
Interne ID
57
Autor(en)
Michel,B., Dudek,R., Keller, J., Luczak, F.
Wo veröffentlicht?
in GMM-Fachberichte Elektronische Baugruppen,Nr.44, ed. W. Scheel, VDE Verlag Offenbach
Jahr
2004
Seite(n)
99-112
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