Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen, Teil 2

Interne ID	14
Autor(en)	Michel, B.; Großer, V.; Dudek, R.; Kühnert, R.; Schubert, A.
Wo veröffentlicht?	Verbindungstechnik in der Elektronik 5
Jahr	1993
Seite(n)	121 - 124