Zuverlässigkeitsbewertung zurBauteloptimierung im Mikro-Nano- Übergangsbereich

Interne ID	115
Autor(en)	Michel, B.;Pufall, R; Kanert, W.;Dudek, R.;
Wo veröffentlicht?	Mesago, Messepublikation, Tutorialhandbuch SMT Nürnberg
Jahr	2011
Seite(n)	1-60