Advanced Virtual Testing of Structural Integrity in Microelectronics

Interne ID	116
Autor(en)	Shirangi,M.H.;Michel,B.
Wo veröffentlicht?	Proceedings MicroCar 2011, Publication Series Micro- and Nanomaterials (M&N), Berlin, Fraunhofer ENAS u. IZM 2011 No.11
Jahr	2011
Seite(n)	im Druck