Testing, Reliability, and Application of Micro-and Nano-Materials SYstems III

Interne ID	78
Autor(en)	Geer,R.E.;Meyendorf,N.;Baaklini,G.Y.;Michel,B.
Wo veröffentlicht?	Proceedings of SPIE, vol. 5766
Jahr	2005
Seite(n)	178 pp.