Comparative Characterization of Chip Epoxy Interfaces by Molecular Modeling and Contact Angle Determination

Interne ID	121
Autor(en)	Hoelck,O.; Bauer,J.; Wittler,O.; Michel,B.; Wunderle,B.:
Wo veröffentlicht?	Microelectronics Reliability 52(2012)No. 7
Jahr	2012
Seite(n)	1285-1290