Quantitative Deformations- und Rißspitzenanalyse mittels Mikro-Moiré-Technik im REM

Interne ID 20
Autor(en) Michel, B.; Kühnert, R.
Wo veröffentlicht? Vortragsveranstaltung des Deutschen Verbandes für Materialforschung und -prüfung, AK Rastermikroskopie in der Materialprüfung, Dresden, 13.-15.4.1994, Veröffentl. des DVM
Jahr 1994
Seite(n) 115 - 120