Auf Biegen und Brechen- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen"

Interne ID 56
Autor(en) Dual, J., Mazza,E., Michel, B.
Wo veröffentlicht? Bulletin der ETH Zürich, No. 292,Febr. 2004
Jahr 2004
Seite(n) 57-60