Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer von Sensorsystemen im Mikro-Nano-Übergangsbereich

Interne ID	163
Autor(en)	Michel,B.
Veranstaltung	Leibniz Conference Sensorsysteme 2006
Ort	Lichtenwalde
Datum	12.10.2006
Enddatum	14.10.2006