Bewertung von Zuverlässigkeit und Lebensdauer von Komponenten und Systemen im Mikro-Nano-Übergangsbereich

Interne ID	177
Autor(en)	Michel, B.
Veranstaltung	GMM Workshop Mikro-Nanointegration
Ort	Erfurt
Datum	03.03.2010
Enddatum	04.03.2010