Interface-Risse in Komponenten der Mikro- und Nanoelektronik

Interne ID	152
Autor(en)	Michel,B.; Auersperg, J.; Walter,H.
Veranstaltung	36. Tagung des DVM Arbeitskreises Bruchvorgänge
Ort	Aachen
Datum	14.02.2006
Enddatum	15.02.2006