Zuverlässigkeitskonzepte von 'Mikro bis Nano'- Neue Anforderungen und Möglichkeiten der Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik

Interne ID	113
Autor(en)	Michel,B.
Veranstaltung	Invited Lecture, VDE-Kongress Mikrosystemtechnik 2005
Ort	Freiburg
Datum	10.10.2005
Enddatum	12.10.2005