Nanoreliability for Mechanically Loaded Devices

Interne ID	99
Autor(en)	Vogel,D., Sabate,N., Wunderle,B., Keller,J., Michel,B., Reichl,H
Veranstaltung	International Congress of Nanotechnology 2005 (ICN2005)
Ort	San Francisco, USA
Datum	01.11.2005
Enddatum	04.11.2005