Untersuchungen zur Zuverlässigkeit von Chipkarten

Interne ID	35
Autor(en)	Michel, B.; Vogel, D.; Schubert, A.
Veranstaltung	Tagung Fachausschuß 'Qualität und Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen der ITG
Ort	Bayersoien
Datum	14.05.1996
Enddatum	15.05.1996