Nanoreliability- Zuverlässigkeitskonzepte für den Mikro-Nano-Übergangsbereich

Interne ID 145
Autor(en) Michel,B.; Winkler,T.;Wunderle,B.; Auersperg,J.
Veranstaltung 3rd Leibniz Conference Nanoscience 2007
Ort Lichtenwalde
Datum 18.11.2007
Enddatum 20.11.2007