Prüfung und Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik im Mikro- und Nanobereich
Interne ID
111
Autor(en)
Michel, J., Keller., J.
Veranstaltung
Invited Lecture,23. Tagung Werkstoffprüfung, Deutscher Verband für Werkstofforschung u. -prüfung
Ort
Berlin
Datum
01.12.2005
Enddatum
02.12.2005