Nanoreliability- Zuverlässigkeitskonzepte für den Mikro-Nano-Übergangsbereich
Interne ID
145
Autor(en)
Michel,B.; Winkler,T.;Wunderle,B.; Auersperg,J.
Veranstaltung
3rd Leibniz Conference Nanoscience 2007
Ort
Lichtenwalde
Datum
18.11.2007
Enddatum
20.11.2007