Interface-Risse in Komponenten der Mikro- und Nanoelektronik

Interne ID 152
Autor(en) Michel,B.; Auersperg, J.; Walter,H.
Veranstaltung 36. Tagung des DVM Arbeitskreises Bruchvorgänge
Ort Aachen
Datum 14.02.2006
Enddatum 15.02.2006