Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer von Sensorsystemen im Mikro-Nano-Übergangsbereich
Interne ID
163
Autor(en)
Michel,B.
Veranstaltung
Leibniz Conference Sensorsysteme 2006
Ort
Lichtenwalde
Datum
12.10.2006
Enddatum
14.10.2006