Verformungsanalyse mit Computertomographie

Interne ID	175
Autor(en)	Michel,B.; Hammacher,J.; Faust, W.; Winkler, T.; Vogel, D.
Veranstaltung	10.Tagung Mikrosystemtechnik
Ort	Chemnitz
Datum	20.10.2010
Enddatum	21.10.2010